高低溫老化房定做適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、材料、各種工業(yè)產(chǎn)品或電子元?dú)饧诟叩蜏睾銣鼗驖駸岷銤竦沫h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。

高低溫老化房定做技術(shù)參數(shù)：

一、可選擇操作的溫度范圍 ： A：0℃； B：-20℃； C：-40℃； D：-70℃～＋80℃/100℃(可選擇任意低溫或者高溫做試驗(yàn)室的溫度范圍）

二、濕度范圍 ： 20～98％R.H或 30～95％R.H（相對溫濕度圖請參考報價方案）

三、波動度 ： ≤±0.5℃；步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室均勻≤±2℃

四、試驗(yàn)室控制精度 ：溫度±0.2℃、濕度±2％R.H；

五、試驗(yàn)室溫度解析精度：0.01℃、試驗(yàn)室濕度解析精度：0.1%R.H

六、試驗(yàn)室溫度均勻度：±2℃；濕度均勻度：≤±3%R.H（+2、-3%RH）

七、溫度波動度：±0.5℃ （空載時）

八、安全保護(hù)裝置：超溫保護(hù)，防干燒保護(hù)，無熔絲開關(guān)，缺水保護(hù)，液位保護(hù)，保險絲，壓縮機(jī)超壓、過熱、過電流保護(hù)等眾保護(hù)裝置24小時保證設(shè)備的安全及穩(wěn)定性工作。

九、滿足與執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)如下：

GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫；GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫；

GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)；GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）